介電頻譜測試儀是模塊化的，整合的研究系統(tǒng)，可用來測試從絕緣體到導體的大部分材料的電學性質。此測試系統(tǒng)即提供時域技術，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓（I-V）確定材料的電學性能；又提供AC技術如阻抗、電容、C-V來提供更多細節(jié)信息進一步分析材料的導電機理。適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質，通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究科研機關、高校、工廠等地方。它是在特殊環(huán)境下，測量介質在該環(huán)境溫度下的介電常數。
介電頻譜測試儀為分析低電導率、低損耗材料要擴展即使是較好的頻響分析儀的能力。單獨使用時，已不能有效地解決上述問題。接口克服了這些限制，提供一個范圍過了12個數量級的快速可重復的阻抗測量，阻抗測量過100TΩ（1014Ω），可洞察各種材料包括聚合物、橡膠、木材、粘膠劑、電子元件、石臘及油類等的特性。與易于操作的軟件相結合，系統(tǒng)能照應實驗技術而讓你集中精力于所得結果的分析。
介電頻譜測試儀的主要用途：
無源元件：可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性。
液晶材料：介電頻譜測試儀還可用于液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性。
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